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上海韻鼎國際貿易有限公司

PRODUCT DISPLAY

當前位置:上海韻鼎國際貿易有限公司>>韓國Calpas雜質檢測儀>> Calpas-T雙探頭轉盤式粒子黑點雜質檢測儀

雙探頭轉盤式粒子黑點雜質檢測儀

參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號:Calpas-T

品       牌:其他品牌

廠商性質:代理商

所  在  地:上海市

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更新時間:2023-11-10 13:36:36瀏覽次數:2582次

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產地類別 進口 應用領域 食品,化工,農業,石油
Calpas-T雙探頭轉盤式粒子黑點雜質檢測儀,粒子經過轉盤時,上下探頭360°照射樣品,完成*掃描。

雙探頭轉盤式粒子黑點雜質檢測儀

CALPAS-TERMINAL Calpas-T)介紹

上下360°照射,雜質無處藏身

 AI智能識別程序 & 雙探頭篩分系統

異物檢測對于產品質量控制,獲得客戶信任至關重要。對于產品控制而言,異物檢測不僅僅能提升樣品的外觀質量,更能提高材料的安全性和可靠性。目前市場上的設備在控制異物方面還有一定的局限性,但是異物檢測的需求卻日益增長。

與此同時,對于異物檢測,客戶往往對檢測速度有著較高的要求,在速度與準度的平衡中,高速的檢測通常會降低檢出率。另外,市場上對于微小異物的檢出需求越來越高,要求設備不斷的降低小檢出尺寸來滿足要求,這對設備的精度又提出了更高的要求,要求在快速檢測的流程中設備能夠準確的篩選出微小的異物粒子。

為了滿足這一需求,Scigentec公司推出了CALPAS-TERMINALCALPAS-TERMINAL基于高速托盤篩分代替傳統的重力篩分,大大減少了物料損失。

雙探頭照明系統可以從樣品兩側實時測量,保證測量結果的穩定性和全面性,小檢測直徑可達10微米。

在測量過程中,我們往往會遇到因為顆粒特性而造成的光學誤差(如陰影、透射、反射等),CALPAS AI 程序(可選)可以幫助設備識別因產品原因造成的光學誤差,提高準確率,并配合轉盤篩分系統實現高效、準確、快速去除異物的目的。

CALPAS-TERMINAL雙探頭測量篩分系統針對50微米的異物顆粒,可以達到200千克/時的檢測速度,是一款使用簡單、檢測高效的終端質量控制設備。

產品特點

  • 雙探頭檢測系統
  • 異形異色分析
  • 可變照明控制
  • 操作穩定便捷
  • 設備可自由移動
  • 自動平衡裝置
  • 工業電腦高效穩定
  • 全自動電離空氣清潔系統
  • 小檢測尺寸: 20 µm
  • 檢測速度 : 200kg/1hour.

可選配置

  • 20 µm檢測系統
  • 數據傳輸功能
  • 高速旋轉式篩分設備
  • 升級為9L進料斗(離線設備)
  • 在線實時監控
  • 需連接在線等速取樣設備
  • AI(人工智能)功能軟件及深度學習擴展

雙探頭轉盤式粒子黑點雜質檢測儀

軟件功能豐富適應性廣泛,可適應不同種類粒子的材質及形狀,一個軟件對應多種樣品。

CALPAS AI軟件具有深度學習功能,可利用人工篩分結果學習訓練篩分模式,優化測量結果。

 

透明粒子圖像(去除陰影)

不透明粒子圖像(去除陰影)

異形分析

 

 

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粒子篩分出口

雙探頭檢測系統

信號輸出

內置AI程序

 

 

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CALPAS 檢測范圍(使用奧林巴斯標準尺OB-MM10µm

 

 

 

 

 

 

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